CN116134624A      半导体结构的制作方法

审中
实质审查

申请日:2020.09.23

IPC分类号:H01L29/778

公开日:20230516

申请人:苏州晶湛半导体有限公司

发明人:程凯;向鹏

专利详情
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发明名称

半导体结构的制作方法

摘要

本申请提供了一种半导体结构的制作方法,包括:提供硅衬底(10),在硅衬底的上表面外延生长功能层(11),功能层的材料为Ⅲ族氮化物基材料;向硅衬底与功能层的界面(12)注入离子或在外延生长功能层前,向硅衬底的上表面注入离子,以在界面处引入缺陷。

著录项目

申请号:CN202080103929.0

公开(公告)号:CN116134624A

申请日:2020.09.23

公开(公告)日:20230516

优先权:20200923 CN PCT/CN2020/117158

同族:中国$美国$世界知识产权组织(WIPO)

同族引用文献:4

同族施引专利:0

相关人

申请人:苏州晶湛半导体有限公司

申请人地址:215123 江苏省苏州市苏州工业园区金鸡湖大道99号西北区20幢517-A室

权利人:苏州晶湛半导体有限公司

权利人地址:215123 江苏省苏州市苏州工业园区金鸡湖大道99号西北区20幢517-A室

发明人:程凯;向鹏

代理机构:北京博思佳知识产权代理有限公司

代理人:林祥

权利要求
    一种半导体结构的制作方法,其特征在于,包括: 提供硅衬底(10),在所述硅衬底(10)的上表面外延生长功能层(11),所述功能层(11)的材料为Ⅲ族氮化物基材料; 向所述硅衬底(10)与所述功能层(11)的界面(12)注入离子或在外延生长所述功能层(11)前,向所述硅衬底(10)的上表面注入离子,以在所述界面(12)处引入缺陷。
法律信息概述
审中
实质审查
2040.09.23
失效
1970.01.01
授权
2023.05.16
申请局首次公开
2020.09.23
授权